平面度的現(xiàn)場(chǎng)檢定中主要存在兩個(gè)問(wèn)題:一是怎樣減小現(xiàn)場(chǎng)檢定時(shí)由環(huán)境突變帶來(lái)的粗大誤差;二是如何在現(xiàn)場(chǎng)快速的判定檢定數(shù)據(jù)的可靠性。本文論述了產(chǎn)生兩個(gè)問(wèn)題的原因及其解決的方法并介紹了能解決兩個(gè)問(wèn)題的新型水平儀測(cè)量系統(tǒng)。

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